红外测温时，对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
红外测温时，对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
A、正确
B、错误
正确答案：B
Tag：变电检修技能竞赛理论知识 测温 判据
时间：2024-07-23 15:59:29