假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1，缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1，缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
A.50%
B.0%
C.37%
D.10%
正确答案：C
假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1，缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
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