在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为()


在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为()

A.电镜

B.扫描隧道显微镜

C.图像处理技术

正确答案:A


Tag:机械制造技术基础 形貌 显微镜 时间:2021-09-01 15:46:41