首页
AFM可观测样品内部形貌特征。
精华吧
→
答案
→
知到智慧树
→
未分类
AFM可观测样品内部形貌特征。
A.正确
B.错误
正确答案：B
Tag：
半导体技术导论
形貌
样品
时间：2021-10-02 21:22:37
上一篇：
AFM的探针针尖与样品表面直接接触，所以测量时会损伤样品。
下一篇：
以下哪种检测方式的激发源不是X射线？
相关答案
1.
TME可观测厚度1微米以上的样品。
2.
表面不导电的样品无法用SEM进行观测。
3.
SEM观测的主要原理是搜集入射电子激发的二次电子进行逐点成像的。
4.
通常TEM观测的分辨率要高于SEM。
5.
以下晶体硅生长过程中的产物中哪种是单晶体？
6.
利用液封直拉法得到的晶锭可以直接切割成晶片。
7.
12英寸硅晶片是指硅晶片的（）是12英寸。
8.
化学气相沉积法和物理气相沉积法最主要的区别在于前者需要在真空环境下进行。
9.
化学气相沉积法的反应原料是气体，反应物是固体，副产物也可以是固体
10.
以下哪种不属于化学气相沉积法
热门答案
1.
以下哪种材料无法通过分子束外延生长法制备？
2.
通过扩散方式掺杂对杂质浓度和掺杂深度的控制精度比通过离子注入的方式掺杂要高。
3.
利用正光刻胶曝光、显影、蚀刻的过程中，掩膜版上透光图案对应的基底部位将被蚀刻掉。
4.
利用氢氟酸蚀刻SiO2薄膜具有各向异性。
5.
集成电路中只能制造二极管和三极管，而无法制造电阻。
6.
逻辑电路的基本元件是MOS管。
7.
在CMOS工艺中，通常采用对光刻胶曝光显影来实现所设计结构的图案制备。
8.
以下半导体产线上最昂贵的设备是（）？
9.
目前量产的半导体器件节点尺寸是（）？
10.
半导体产业涉及的知识领域主要是物理学和材料学，与化学无关。