C.薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏

D.薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化

正确答案：在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀 ；样品相对于电子束必须有足够的透明度 ；薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏 ；薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化

5、电子衍射分析只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

6、计算晶面（111）和（100）的晶带轴指数？

A.[01-1]

B.[0-1-2]

C.[210]

D.[211]

正确答案：[01-1]

7、有关电子衍射说法正确的是（）。

A.入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。

B.只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。

C.只关心衍射斑点的位置，不关心强度。

D.只能观察薄膜样品的结构，不能与形貌观察有机结合起来。

正确答案：入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。只关心衍射斑点的位置，不关心强度。

8、电子衍射花样中，任一衍射斑点到透射斑点的距离可以近似看作对应倒易矢量的放大像，放到倍数为相机常数。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

9、由于晶体的倒易点阵是三维点阵，如果电子束沿晶带轴[uvw]的反向入射时，通过原点O的倒易平面只有一个，这个二维平面叫做零层倒易面。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

10、电子衍射操作时采用薄晶样品，可以使衍射晶面和透射电子显微镜入射电子束之间的夹角不精确符合布拉格条件仍能产生衍射。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

第三章单元测试

1、透射电子显微镜的成像信号来自于透射电子。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

2、能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析，因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。

A.正确

B.错误

正确答案：错误

3、二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

4、材料吸收电子和吸收光子不同，吸收电子时，入射电子停止运动，停留在材料内部。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

5、用背散射电子进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子像低。

A.正确

B.错误

正确答案：正确

6、用来显示组织和细胞的内部超微结构像的电子为（）

A.弹性散射电子

B.二次电子

C.透射电子

D.入射电子

正确答案：透射电子

7、合金钢薄膜中极小弥散颗粒（直径远小于500 nm ）的物相鉴定，可以选择（）。

A.透射电镜

B.X射线衍射线分析

C.紫外可见吸收光谱

D.差热分析

正确答案：透射电镜

8、电子显微镜的分辨率要比光学显微镜的分辨率高，根本原因是（）。

A.电子束的穿透力比可见光强

B.电子束可以聚焦成小到几纳米的束斑