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在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选择什么仪器？
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在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选择什么仪器？
A.SEM（配有能谱分析）
B.TEM
C.XRD
D.SAED
正确答案：SEM（配有能谱分析）
Tag：
材料测试技术及方法
断口
粒状
时间：2024-01-04 21:27:17
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电子显微镜的分辨率要比光学显微镜的分辨率高，根本原因是（）。
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在紫外可见吸收光谱中，吸光物质的性质决定吸光物质摩尔吸光系数。
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合金钢薄膜中极小弥散颗粒（直径远小于500 nm ）的物相鉴定，可以选择（）。
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用背散射电子进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子像低。
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材料吸收电子和吸收光子不同，吸收电子时，入射电子停止运动，停留在材料内部。
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二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。
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能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析，因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。
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透射电子显微镜的成像信号来自于透射电子。
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电子衍射操作时采用薄晶样品，可以使衍射晶面和透射电子显微镜入射电子束之间的夹角不精确符合布拉格条件仍能产生衍射。
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由于晶体的倒易点阵是三维点阵，如果电子束沿晶带轴[uvw]的反向入射时，通过原点O的倒易平面只有一个，这个二维平面叫做零层倒易面。
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电子衍射花样中，任一衍射斑点到透射斑点的距离可以近似看作对应倒易矢量的放大像，放到倍数为相机常数。
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有关电子衍射说法正确的是（）。
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计算晶面（111）和（100）的晶带轴指数？
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电子衍射分析只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
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电子衍射常作为透射电镜的附件使用，请叙述观察薄膜样品的基本要求有（）。
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与X射线衍射相比，电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。
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SAED照片中多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样，随着环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。
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单晶衍射花样中所有斑点对应的晶面属于同一个晶带。
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已知Ni对CuKα和CuKβ辐射的质量吸收系数分别为49.03和290cm2/g，若将CuKα辐射的强度降低至入射时的70％需要使用多厚的Ni滤波片。
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用CuKα辐射（λ=0.154 nm）照射Ag（面心立方）求其点阵常数，测得第一衍射峰位置38°，下列说法正确的是。
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利用XRD进行分析，下列说法不正确的是。
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体心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是。